-激光尺；光栅尺；编码器；Laserscale；Linear encoder;
- Pitch（栅距） ： 实绩≥0.4μm; 建议 ≥1.0μm; 其它要求可评估; 
-高精密机床、显示面板与半导体加工及量测设备用。
-设计制造内容：
读头、光学设计（试制） 
特殊光学部件与刻度设计试制
发光元件、受光元件的定制
基板、光学与机械设计、组装及功能评估
编码器设计（试制）
精度评估
量产制造